新微半導(dǎo)體突破:砷化鎵光電探測器工藝平臺亮相

作者 | 發(fā)布日期 2025 年 06 月 17 日 14:07 | 分類 企業(yè) , 砷化鎵

6月17日,上海新微半導(dǎo)體有限公司(簡稱“新微半導(dǎo)體”)宣布正式發(fā)布基于砷化鎵(GaAs)的高速和陣列光電探測器(PD, Photodetector)工藝平臺。該平臺的推出,標(biāo)志著新微半導(dǎo)體在高速數(shù)據(jù)通信與光通信領(lǐng)域業(yè)務(wù)板塊的進(jìn)一步拓展,可以為客戶提供更豐富、更高效和更可靠的光電解決方案。

圖片來源:新微半導(dǎo)體

據(jù)介紹,該平臺采用了4英寸GaAs/AlGaAs異質(zhì)結(jié)外延技術(shù),結(jié)合深臺面刻蝕、側(cè)壁鈍化及BCB/PBO平坦化等關(guān)鍵工藝,具備低暗電流、低電容、高響應(yīng)度、高帶寬及高可靠性等優(yōu)越性能。其代工產(chǎn)品能夠在-40℃到85℃的寬溫范圍內(nèi)穩(wěn)定運行,確保設(shè)備在嚴(yán)寒、高溫等嚴(yán)苛環(huán)境下的性能一致性,保障終端設(shè)備可靠運行。

在可靠性驗證上,其代工產(chǎn)品已通過Telcordia GR468可靠性標(biāo)準(zhǔn)測試,涵蓋HTOL(高溫工作壽命)、ESD(靜電放電)、T/C(溫度循環(huán))及THB(高溫高濕壽命)等關(guān)鍵測試項目。在175℃的HTOL測試以及THB(溫度85℃、濕度85%RH)測試環(huán)境中,施加-5V偏置電壓條件,三批產(chǎn)品(抽樣標(biāo)準(zhǔn)77顆樣品)經(jīng)過2000小時老化后,均實現(xiàn)零失效,產(chǎn)品可靠性滿足通信級標(biāo)準(zhǔn)。

作為先進(jìn)的化合物半導(dǎo)體晶圓代工企業(yè),新微半導(dǎo)體自成立以來,一直專注于為功率和光電兩大應(yīng)用領(lǐng)域的客戶提供多元化的晶圓代工及配套服務(wù)。除了此次推出的砷化鎵光電探測器工藝平臺,公司還擁有基于3/4吋磷化銦(InP)材料的全系列光電工藝解決方案,以及氮化鎵(GaN)功率器件制造平臺等,產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于通信、新能源、消費電子、汽車、工業(yè)和生物醫(yī)療等多個終端應(yīng)用領(lǐng)域。

新微半導(dǎo)體總經(jīng)理王慶宇博士表示:“新微半導(dǎo)體始終致力于為客戶提供最先進(jìn)的化合物半導(dǎo)體工藝解決方案。此次高速和陣列砷化鎵光電探測器工藝平臺的推出,是我們在光電領(lǐng)域的又一重大突破。我們相信,憑借該平臺的卓越性能,將幫助客戶在市場競爭中取得優(yōu)勢,推動行業(yè)的技術(shù)進(jìn)步和應(yīng)用拓展?!?/p>

(集邦化合物半導(dǎo)體整理)

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